点击图片查看原图广电计量可以做AEC-Q-100认证报告,AEC-Q-101认证报告,AEC-Q-102认证报告, AEC-Q-104认证报告,AEC-Q-200认证报告,元器件筛选,破坏性物理分析,NVH测试
广州广电计量检测股份有限公司(股票简称:广电计量,股票代码:002967)始建于1964年,是原信息产业部电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等专业技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内领先水平.
广电计量积极布局第三代半导体功率器件的测试业务,引进国际先进的测试技术,为功率半导体产业上下游企业提供器件参数检测服务,助力器件国产化、高新化发展.
测试周期:
根据标准、试验条件及被测样品量确定
服务内容:
覆盖MIL-STD-750,IEC 60747系列,GB/T29332等标准;服务内容包括:静态参数,动态参数,热特性,雪崩耐量,短路特性及绝缘耐压测试;设备支持0-1500A,0-3000V的器件参数检测.
产品范围:
MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半导体器件等分立器件,以及上述元件构成的功率模块
测试项目:
静态参数 | 符号 |
Drain to Source Breakdown Voltage | BVDSS |
Drain Leakage Current | IDSS |
Gate Leakage Current | IGSS |
Gate Threshold Voltage | VGS(th) |
Drain to Source On Resistance | RDS(on) |
Drain to Source On Voltage | VDS(on) |
Body Diode Forward Voltage | VSD |
Internal Gate Resistance | Rg |
Input caPACitance | Cies |
Output capacitance | Coes |
Reverse transfer capacitance | Cres |
Transconductance | gfs |
Gate to Source Plateau Voltage | Vgs(pl) |
动态参数 | 符号 |
Turn-on delay time | td(on) |
Rise time | tr |
Turn-off delay time | td(off) |
Fall time | tf |
Turn-on energy | Eon |
Turn-off energy | Eoff |
Diode reverse recovery time | trr |
Diode reverse recovery charge | Qrr |
Diode peak reverse recovery current | Irrm |
Diode peak rate of fall of reverse recovery current | dirr/dt |
Total gate charge | QG |
Gate-Emitter charge | QGC |
Gate-Collector charge | QGE |
-参数 | 符号 |
thermal resistance | Rth |
Unclamped Inductive Switching | UIS |
Reverse biased safe operating area | RBSOA |
Short circuit safe operation area | SCSOA |
第三代半导体功率器件的参数检测,MIL-STD-750-广电计量实验室是广州广电计量检测股份有限公司的主要产品,我们的产品负责人是詹俊强,我们的地址是广州市天河区黄埔大道西平云路163号詹生13726258929,期待与您的合作!
