性能优势:

1. 微小样品检测:最小测量面积

2. 变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm

3. 核心EFP算法:Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量

4. 先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限

5. 高性能探测器:SDD硅漂移窗口面积50mm2探测器

6. X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置

7. 上照式设计:实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量

8. 大行程移动平台:手动XY滑台100*150mm,自动XY平台200*200mm

应用领域:涂镀层分析-RoHS检测-地矿全元素分析-合金、贵金属检测

一六仪器研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层

  结构设计:

    研制的测厚仪独特的光路交换装置,让X射线和可见光摄像同一垂直线,达到视觉与测试定位一体,且X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能,实现高低、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弧度倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层.

    独创EFP算法:

采用Fp算法的后一代全新核心算法--理论Alpha系数法,基于荧光X射线激发的基本原理,从理论上计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线的荧光强度,在基于此计算Lachance综合校正系数,然后使用这些理论a系数去校正元素间的吸收增强效应.

    只需少数标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属以及有机物层.