仪器简介:

XTD-200是一款专用于检测各种异形件,特别适用于五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析.

该系列仪器不但可以应对平面、微小样品的检测,在面对凹槽曲面深度0-90mm以内的异形件具备巨大的优势;搭载全自动可编程移动平台,无人值守,便可实现多样品的自动检测.

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用.

技术参数:

1.涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

2 厚度较低检出限:μm

3. 较小测量直径(较小测量面积²)

4.  元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

5..成分较低检出限:1ppm

检测78种元素镀层.检出限.较小测量面积㎡.较深凹糟可达90mm.

外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精密,速度10-30mm(X-Y)/圈,较小再多的样品都没难度,让操作人员轻松自如.

专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭-发出EFP核心算法,

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可分析出镍磷含量比例.

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可测量和分析.

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,一层Ni和三层Ni的厚度均可测量.

测量面积:较小²   

镀层分析:23层镀层24种元素

仪器特点:可手动变焦

仪器优势:同元素不同层分析