F-200A型半导体器件通用测试机
一、 概述
F-200A半导体器件通用测试机是专为测量包括二极管、MOS管、IGBT、毫欧电阻等电子器件正向压降而设计,正向电流分为-、~1A、1~10A、10~200A四个档位,测量范围更广.
~:小电流硅堆、(高压二极管:定制60V)、内的小电流MOS管和二极管、LED、10~100Ω电阻等测试;
~10A:中小功率二极管、MOS管、~1Ω电阻;
10~200A:大功率二极管、MOS管、IGBT管、0~Ω电阻、开关触点压降稳定性测试
二、技术参数
1. 正向脉冲电流调节范围:~200A,四个档位,每个档位步进为档位满量程的%(10-200A为10mA步进)
2. 脉冲宽度:300us-600us 固定值
3. 开路输出电压:≥65V
4. 正向压降测量范围:10mA-10A:60V;10A-200A:20V
5. 正向压降测量电流电压的分辨率:
测量范围 | 测试电流 分辨率 | 测试电压 分辨率 | 压降 测量范围 |
10~100mA | 1mV | 60V | |
mA | 1mV | 60V | |
1~10A | 1mA | 1mV | 60V |
10~200A | 10mA | 1mV | 20V |
6. 供电电压:AC220V±10%,50Hz
7. 消耗功率:≤100W
8. 工作温度:25℃±10℃
9. 串口RS485通信接口
10. 配电脑软件,输出特性曲线、导出图像和excel数据点
11. 测试仪器可脱机独立运行
12. 选配栅极测量选件,可测量栅极端口电容、栅极正反向漏电、测量IG/VGE、IC(ID)/VGE;选配极性自动切换选件,可自动切换电压电流正负极性;选配耐压测试盒选件,可测试最高5kV的器件耐压.有关选件具体信息,请咨询销售经理.
三、产品简介
测试仪器的前面板包括LED显示屏,功能按键,设定旋钮,电源开关,二极管正极负极接线端子等.
测试器件正向压降的时候,通过前面板的四线夹子,红色线夹和二极管的正极连接,黑色线夹和二极管的负极连接.触发开关为不带锁的复位按键,档按钮按下时,测试仪器输出一个设置的~200A的电流脉冲,电流调节旋钮顺时针调节为增大电流,逆时针为减小电流,旋转一格,电流步进.步进值的变动范围与光标档位设定有关.
脚踏开关和正面板上的触发开关并联,二者功能一致;
LAN口为保留的以太网测试接口,留作升级使用.
RS-485为计算机通讯口
外置选件接口用于连接外置使用的选件(例如高压漏电测试选件)
220V供电口接入电源.
四 测试示例:
1. 测量二极管在规定正向电流IF的正向压降VF
2.测量IGBT内反向二极管/NMOSFET寄生二极管在给定的正向电流IF下
的压降VFd:
3.测量电阻器件在规定正向电流IF的电阻值Rf
4.测量MOSFET/IGBT在规定的偏压VGE下的栅极漏电IG
5.测量Ciss/电容容量
6.测量IGBT/MOSFET管在规定的VGE(VGS)管压降
7. 测量MOSFET的RDSON
五 校准方法:
0.校准操作不建议用户操作.若有需求,请与厂家联系.
1.按MENU ,选至 CALPWD选项,使用旋钮与光标设置密码为,再按MENU,此时SET1显示VFCAL0
2.按面板set2 切换至vfcal0的参数值 设置为10左右;
3.按面板set1 光标切换回vfcal0 使用旋钮切换至vfcal1,
重复第二步,将vfcal1的值设定为约20800;
的中间红黑两个端子用线短路,切换校准点至vfcal0,修改set2的值,令result的电压值为
5.切换至vfcal1,去掉短路线,并将短路线短路的红黑端子输入的准确电压,或者精确的2V附近的电压即可,调节vfcal1的值,令result的值与实际输入的电压一致.
6.-点参考第5项进行校准,推荐每2V进行校准.VFCAL0-VFCAL9的校准电压必须单调增大,不可忽大忽小,否则将导致校准错误.
7.若校正时发现无法校准,或校准值间偏差过大,则可能是设备故障,需要返厂送修.
电流设定校准方法:
注意,电流校准应在电压校准后进行.
电流校准方法与电压相似,需要准备100欧姆、1欧姆、欧姆的精密电阻,阻值类似也可,需要保证足够的精度.
1.按MENU ,选至 CALPWD选项,使用旋钮与光标设置密码为,再按MENU,此时SET1显示IFST00
2.按面板set2 切换至ifst00的参数值 设置为;
3.按面板set1 光标切换回ifst00 使用旋钮切换至ifca00,
用四线测试夹子接入100欧电阻,按触发按键,调节ifca00的值(约55000),使得结果显示的电压为 ifst00的电流值乘外接电阻.
4.其余点同上,ifstxx 为要校正的点的电流设定值,ifcaxx为该点的校正参数.共40个校准点,每个档位10个校准点.
例如ifst00 – ifst09 分配给-档位,ifst10-ifst19分配给-1A档位.
5.推荐均分电流点进行校准,校准电流必须单调增大,不可忽大忽小,否则将导致校准错误.
六 电脑连机测试步骤
① 连接测试仪器后面板上的DB9和USB转RS485转接线;
② USB转RS485转接线和电脑连接;
③ 使用四线测试夹红色连接二极管阳极,黑色连接二极管阴极;
④ 打开电源开关;
⑤ 打开电脑程序;
⑥ 程序操作读取曲线;
⑦ 由于软件版本较早,暂只支持器件的电流-压降测试曲线.
七 软件操作步骤:
① 例:测量二极管正向压降曲线,电流0-10A;
② 打开电脑程序图标"二极管正向压降测试仪";
③ 选择串口号,通过硬件管理,可以串口号;
④ 点击图标按钮打开串口;
⑤ 设置采样速率,~10Hz;低频测试器件温升小,高频测量速度快,可根据需要选择;注意,当测量电流大于10A时,脉冲频率不可高于3Hz,否则结果不可信.
⑥ 脉冲宽度任意选择
⑦ 输入起始电流0A;终止电流为1000A;扫描点数为1~1000点(由于该软件早于仪器开发,其设定电流范围为0-3000A,且测量点数不能高于起始电流差值).
⑧ 打开测试仪电源开关,按MENU键选择至ISCALE项目,选择该项目的值为100:1,即上位机设定1000A将除以100,实际测试电流为0-10A;
八 注意事项
1、本测试仪请勿在测试仪上试图连接电池电源类器件,有可能损坏内部器件.
2、应保证本测试仪工作在规定的供电电压和温度条件下,保证测量准确度.
3、本仪器内有高压,非专业人员请勿擅自开启外壳,当心触电.仪器最大输出电压大于60V,谨防触电.
4、本仪器连接时务必按照示例图连接.GATE红线切勿与开尔文夹子线的红线碰触,否则可能烧毁仪器.
九 固件升级
本测试仪支持不拆机升级内部程序软件.操作方式为开机后按MENU键选择至 FW UPD模式,按下TRIG按键后进入固件升级模式.
也可以开机前同时按下RANGE 与 左键 再开机,本机将进入固件升级模式,使用支持xmodem协议的串口终端软件上传固件即可.有关详细信息请咨询厂家.
F-200A型半导体器件通用测试机是深圳艾克思科技有限责任公司的主要产品,我们的产品负责人是刘海艳,我们的地址是深圳市宝安区航城街道鹤州恒丰工业城C4栋,期待与您的合作!